2008年6月的爱思唯尔期刊《大脑皮层》（Cortex）刊登了英国伦敦大学学院的一项针对虚谈症的研究。通过对50名患者的临床调查，研究人员推测大脑内侧前额叶皮层损伤是造成虚谈症的原因。

虚谈症是指患者在回忆往事时，常混淆事情发生的时间、地点和情节，张冠李戴，如把过去可能在生活过程中确曾经历过，然而在他所指的那段时间里却从未发生过的事情，错误地当作该时发生的真实事件来诉说，并且不自觉地固执地加以歪曲和渲染，自发地叙述一些从未发生的事件或在清醒意识下产生的“伪造”记忆。

研究人员对大脑具有不同部位损伤的50名患者做了研究，结果发现，患有虚谈症的患者有个共同的特点，那就是大脑内侧前额叶皮层都有不同程度的损伤，这个部分在大脑的前端，正好位于眼睛后面。研究发现虚谈症的患者其记忆能力差别很大，症状表现上也有很大差异。因此研究人员认为，虚谈症可能与前额叶皮层有关，大脑这部分是负责控制和规范能力和行为。研究人员推测，内侧前额叶皮层损伤造成患者虚构事实和经历，来填补记忆的空白。

研究人员认为，此项研究将有助于对于人脑控制记忆的深入研究，以及探究虚谈症的发病机制.